<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><rss version="2.0" xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"><channel><title>CuCu混合键合 | 行业新闻_制造（点击查看更多）</title><description>搜索引擎 + AI 驱动的行业新闻【覆盖行业】信保 ｜出口 ｜金融 制造 ｜农业 ｜建筑 ｜地产  零售 ｜物流 ｜数智【访问入口】hangyexinwen.com【新闻分享】点击发布时间即可分享【联系我们】xinbaoren.com（微信内打开提交表单）</description><link>https://zhizao.hangyexinwen.com</link><item><title>⁣📰 Intel Fellow 揭秘先进封装如何把芯片从&quot;平房&quot;盖成&quot;摩天楼&quot;本报告聚焦于先进封装在摩尔定律驱动下的关键作用，指出晶圆成本日益攀升与AI对算力需求激增之间的矛盾，促使芯粒化与多幕拼接成为主流路径</title><link>https://zhizao.hangyexinwen.com/posts/15195</link><guid isPermaLink="true">https://zhizao.hangyexinwen.com/posts/15195</guid><pubDate>Fri, 02 Oct 2026 10:23:44 GMT</pubDate><content:encoded>⁣&lt;br /&gt;&lt;b&gt;&lt;i&gt;&lt;b&gt;📰&lt;/b&gt;&lt;/i&gt; Intel Fellow 揭秘先进封装如何把芯片从&quot;平房&quot;盖成&quot;摩天楼&quot;&lt;/b&gt;&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;本报告聚焦于先进封装在摩尔定律驱动下的关键作用，指出晶圆成本日益攀升与AI对算力需求激增之间的矛盾，促使芯粒化与多幕拼接成为主流路径。未来3D 封装将从平面堆叠向立体化发展，实现高密度互连与系统级集成，但同时面临供电与散热挑战，需要在电源、热管理、以及层间互连工艺上进行创新。Cu-Cu 混合键合成为核心驱动，能将互连间距压至1μm以下，从而显著提升单位面积的数据通行能力；但亚微米级缺陷检测成为制约量产的隐形门槛，需提升检测效率与良率学习能力。报告强调生态未完全就绪，设计、制造、测试等环节需协同推进，才能把“可测试的产品”变为现实。未来方向包括玻璃基板的尺寸稳定性与光波导集成、共封装光学提升带宽与功耗比，以及在极限引脚数下通过新型低负载互连实现大封装发展。对从业者的启示是：十年内创新重点将从芯片内部转向芯片之间的协同设计、混合键合与热/电管理，以及测试与失效分析等前沿能力。&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;&lt;i&gt;&lt;b&gt;🏷️&lt;/b&gt;&lt;/i&gt; &lt;a href=&quot;/search/%23%E5%85%88%E8%BF%9B%E5%B0%81%E8%A3%85&quot;&gt;#先进封装&lt;/a&gt; &lt;a href=&quot;/search/%23CuCu%E6%B7%B7%E5%90%88%E9%94%AE%E5%90%88&quot;&gt;#CuCu混合键合&lt;/a&gt; &lt;a href=&quot;/search/%233D%E5%A0%86%E5%8F%A0&quot;&gt;#3D堆叠&lt;/a&gt; &lt;a href=&quot;/search/%23%E7%BC%BA%E9%99%B7%E6%A3%80%E6%B5%8B&quot;&gt;#缺陷检测&lt;/a&gt; &lt;a href=&quot;/search/%23%E7%94%9F%E6%80%81%E5%BB%BA%E8%AE%BE&quot;&gt;#生态建设&lt;/a&gt;&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;&lt;i&gt;&lt;b&gt;🔗&lt;/b&gt;&lt;/i&gt; &lt;a href=&quot;https://www.eet-china.com/mp/a528673.html&quot; target=&quot;_blank&quot;&gt;原文链接&lt;/a&gt;</content:encoded></item></channel></rss>