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📰 聚看云AI视觉系统亮相SEMI-e深圳半导体博览会，引领LED晶圆缺陷检测新变革

2025年9月10-12日，SEMI-e深圳国际半导体技术暨应用博览会在深圳国际会展中心举行，青岛聚看云科技有限公司展示了其自主研发的“聚云境AI视觉系统”。该系统在LED晶圆缺陷检测领域展现了前沿技术，吸引了众多行业专家的关注。随着LED产业的快速发展，外观缺陷检测成为影响产品质量和生产效率的关键环节，传统的AOI设备面临误判和漏检的问题。

聚看云科技推出的全流程自动化AI视觉检测系统，通过深度学习和多分类算法，显著提升了检测的自动化水平和准确率。该系统具备全流程自动化缺陷检测、多形态复杂晶圆合档功能以及Mapping自动分析与异常判定等三大核心技术能力，成功解决了传统检测的局限性，降低了漏检率，并提升了合档成功率。

此外，聚看云还创新引入基于物理的渲染（PBR）技术，解决了工业质检中缺陷样本稀少的问题，提升了数据集搭建效率。该系统已在多家行业龙头企业实现规模化应用，帮助企业节省了人力成本，并推动了AI检测技术在半导体制造行业的深度应用，助力中国半导体产业迈向高质量、高效率的新阶段。

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